La riflettometria utilizza la riflessione delle onde su superfici e interfacce per rilevare o caratterizzare gli oggetti. In particolare, la riflettometria a raggi X è una tecnica analitica sensibile alla superficie utilizzata in chimica. Le misure di riflettività di raggi X permettono determinazioni su scala atomica delle caratteristiche morfologiche di film sottili. L'acquisizione in tempo reale degli spettri di riflettività durante l'esposizione dei film al gas, ha permesso di campionare l'evoluzione dei parametri morfologici fornendo nuove informazioni sulle modalità di interazione.
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